请教关于产品寿命评估的问题
今天面试，有个问题大概是：电子产品在研发阶段和老化阶段如何通过量化的方式评估出产品的使用寿命？求大神赐教，谢谢！ 研发阶段一般不行吧？只能大概找到短板，例如工作温度，最短寿命的器件，然后估算。
老化阶段就是寿命测试，想加快速度就增加测试样品数量，也可以用高应力寿命评估也可以加快测试时间，根据产品特点选择评估模型。
随着现在产品寿命越来越长，ATL，以及基于退化的寿命测试越来越受到重视。 lvyi913 发表于 2017-8-23 23:43
研发阶段一般不行吧？只能大概找到短板，例如工作温度，最短寿命的器件，然后估算。
老化阶段就是寿命测试 ...
老司机，在研发阶段怎么找到最短寿命的元器件？ xzhiwei 发表于 2017-8-24 00:15
老司机，在研发阶段怎么找到最短寿命的元器件？
估算呗。
Flash，EEPROM，电容等等，
最恶劣情况的使用寿命。。。
应该质量工程师有更多的方法吧 这个应该是可靠性方面的东西！ 可以上可靠性论坛上去看看！ 关注下RAMS和LCC吧 每当客户问我这个问题，我也不知道如何回答，，，。。对有些客户，特烦的，直接来一句，理论正常使用，应该比你活的长 有专门的加速老化测试方法 高温，高温加速老化吧 lvyi913 发表于 2017-8-23 23:43
研发阶段一般不行吧？只能大概找到短板，例如工作温度，最短寿命的器件，然后估算。
老化阶段就是寿命测试 ...
大神，什么是ATL？那些模型又有哪些啊？ cumt_123456 发表于 2017-8-24 08:41
关注下RAMS和LCC吧
好的，谢谢！我去了解下~~~ bmagui 发表于 2017-8-24 08:47
有专门的加速老化测试方法
您能说的具体一些吗？谢谢 zuu0 发表于 2017-8-24 08:46
每当客户问我这个问题，我也不知道如何回答，，，。。对有些客户，特烦的，直接来一句，理论正常使用，应该 ...
这个怼给你满分，哈哈 仅供参考！！！！ 感觉研发也只能根据器件的寿命大概估算，时间还是要根据具体工况做实验 bmagui 发表于 2017-8-24 16:37
仅供参考！！！！
下载来看看，十分感谢！ 这类问题 好多客户也有问过，没有个明确的答复 luckly2008can 发表于 2017-8-24 16:51
这类问题 好多客户也有问过，没有个明确的答复
靠经验可以说个7788，但是提到量化，我觉得有点蒙。近几天看资料仿佛感觉用一些公式和计算方法应该可以应付~~~还在看ing 做官方的项目都是需要可靠性计算的，比如那些卫星飞弹等等，所有材料都会有厂家的参数的，然后再结合计算公式，最终得到整机的.以前老是涉及这些，都是交给那些年轻小姑娘与质量部门的人去计算 MTBF是有专门的手册是公式来计算的，这个是设计部门专人来做，国内就是扯淡的假装计算。验证就是品控或者质量部门用很多机器一起，做高温老炼实验，把实验时间*实验样机数=MTBF
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