又是STC8A8K，两个ADC通道，采样顺序不一样结果不一致
又是STC8A8K，两个ADC通道，采样顺序不一样结果不一致初始化程序
void ADCinit()
{
P0M0 = 0x00; //P0.6为AD口，ADC14
P0M1 = 0x40;
P1M0 = 0x00; //P1.0为AD口，ADC0
P1M1 = 0x01;
ADCCFG = 0x0f; //ADC时钟为系统时钟/2/16/16，转换结果左对齐ADC_RES存储高8位，ADC_RESL的高4位存储转换结果的低4位，低4位为0
ADC_CONTR = 0x80; //使能ADC模块
}
uchar ADCresult(uchar channel)
{
ADC_CONTR &=0xF8;
ADC_CONTR |=0x40;//启动AD转换
ADC_CONTR |= channel;
_nop_();
_nop_();
while (!(ADC_CONTR & 0x20)); //查询ADC完成标志
ADC_CONTR &= ~0x20; //清标志
return ADC_RES;
}
下面这个代码完全没有问题
ADCinit();
InitUART();
for(i=0;i<10;i++)
{
delay(65534);
SBUF=ADCresult(0);//高8位
while(!TI);
TI=0;
//SBUF=ADC_RESL; //低4位
//while(!TI);
//TI=0;
}
for(i=0;i<10;i++)
{
delay(65534);
SBUF=ADCresult(14);//高8位
while(!TI);
TI=0;
// SBUF=ADC_RESL; //低4位
// while(!TI);
// TI=0;
}
交换两个通道的顺序，如下，其中14通道仍然没有问题，0通道的结果整个是错的，真是日了狗了
ADCinit();
InitUART();
for(i=0;i<10;i++)
{
delay(65534);
SBUF=ADCresult(14);//高8位
while(!TI);
TI=0;
// SBUF=ADC_RESL; //低4位
// while(!TI);
// TI=0;
}
for(i=0;i<10;i++)
{
delay(65534);
SBUF=ADCresult(0);//高8位
while(!TI);
TI=0;
//SBUF=ADC_RESL; //低4位
//while(!TI);
//TI=0;
}
我又增加了一个通道ADC1（P1.1），把6种顺序组合试了一遍，结果如下
1、14（正确）1（错误）0（错误）
2、0（正确）14（正确）1（错误）
3、1（正确）0（正确）14（正确）
4、0（正确）1（正确）14（正确）
5、14（正确）0（错误）1（错误）
6、1（正确）14（正确）0（错误）
貌似14通道必须放在最后，不然它后面的通道都是错的，又专门这样试了一下
7、0（正确）1（正确）14（正确）0（错误） 楼主不知道转换通道后的AD数据要抛弃，只会抱怨，我就呵呵了。 本帖最后由 MYQQ2018 于 2019-5-6 18:02 编辑
su33691 发表于 2019-5-6 17:33
楼主不知道转换通道后的AD数据要抛弃，只会抱怨，我就呵呵了。
我是采样了10次呀，楼主位的程序；错误的时候，10次全是错的，且无规律，我采的是很稳定的直流信号 问题出在：ADC_CONTR |= channel;
应改为：ADC_CONTR = (ADC_CONTR & 0xf0) | channel; su33691 发表于 2019-5-6 18:10
问题出在：ADC_CONTR |= channel;
应改为：ADC_CONTR = (ADC_CONTR & 0xf0) | channel;
谢谢，明白了；非常感谢 su33691 发表于 2019-5-6 18:10
问题出在：ADC_CONTR |= channel;
应改为：ADC_CONTR = (ADC_CONTR & 0xf0) | channel;
请教一下其他ADC是不是也要做类似操作?
尤其是内部通过模拟开关切换实现多路采集的ADC,是不是切换之后要先这样操作? 对于外挂的ADC芯片或MCU自带的逼近式ADC（SAR ADC），如果采样保持电路之前没有缓冲（起到阻抗变换作用），则通道切换后采样保持电容的电压值会受到上一次通道的影响，特别是切换前后通道间电压差比较大，信号内阻又比较大时，特别明显。
对于STC的ADC，是开关电容方式的SAR ADC，上面为采样示意图，采样保持电路之前无缓冲，输入多通道通过K1选择其中一个通道，通过采样开关连接采样电阻和采样电容。图中电阻值和电容值为示意值，可能跟实际的有差别。
假设上一个通道为Chn（P1.0~P1.7的任意一个通道），转换结束后，本次切换到内部1.25V，启动ADC转换，在采样时间内接通K2经过Rs Cs采样，采样结束，断开K2，开始ADC转换，转换过程保持电压不变。
由于存在时间常数Rs*Cs=0.182us，假设采样时间为5*Rs*Cs=0.91us，从0开始的充电系数为0.993262，对于10位的ADC还嫌不够，12位的ADC更加不够。
说回STC的例子，使用90T的情况，22MHZ时钟，转换时间大约4us，STC手册查不到采样时间，那就平分吧，姑且按11个时隙算（采样1个时隙，每位ADC需要1个时隙），则采样时间为4/11=0.36us，时间太短了，充放电时间太短，所以受到上一通道的影响很大，如果使用540T，则采样达到2us，则通道间影响就很小了。
再比如，读取内部1.25V的ADC值，如果将上一个通道P1.2接VCC，能读到300，P1.2接GND，能读到240，就是上面原因。但是如果不切换通道，你只对内部1.25V转换，你会发现各种速度读数都一样的。
解决方法是：通道切换后开始读的第1次甚至第2次转换都丢弃结果，取第三次的。速度越快，丢弃的越多。或者使用比较慢的速度来转换。
例子中只需要多做2次ADC并丢弃，就可以正常。
电工遇到问题先从自身排查，别总是先让别人背锅
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