xiaoluo2009 发表于 2015-7-22 22:47:54

请教，这种特殊RC测温的相关问题？？？

本帖最后由 xiaoluo2009 于 2015-7-23 00:45 编辑

大家好，最近看到一个产品，是用IO口测温的温度计。
他所使用的测温方法和传统的有点不一样，特来请教各位高手。
先上图



图中：
　　P30、P31和P32是单片机的3个I／O脚;
　　R1为100k的精密电阻;
　　RT为100K－精度为1％的热敏电阻;
　　C1为1μF的瓷介电容。
　　其工作原理为：
　　1.先将P30、P31、P32都设为低电平输出,使C1放电至放完。
　　2.将P31、P32设置为输入状态,P30设为高电平输出,通过R1电阻对C1充电,单片机内部计时器清零并开始计时,检测P31口状态,当P31口检测为高电平时,即C1上的电压达到单片机高电平输入的门嵌电压时,单片机计时器记录下从开始充电到P31口转变为高电平的时间T1。
　　3.将P30、P31、P32都设为低电平输出,使C1放电至放完。
　　4.再将P30、P31设置为输入状态,P32设为高电平输出,通过RT电阻对C1充电,单片机内部计时器清零并开始计时,检测P31口状态,当P31口检测为高电平时,单片机计时器记录下从开始充电到P31口转变为高电平的时间T2。 从电容的电压公式：可以得到：T1／R1＝T2／RT,即 RT＝T2×R1／T1 。通过单片机计算得到热敏电阻RT的阻值。并通过查表法可以得到温度值。


再来说下，这个产品IO测温的特殊之处：
其工作原理：
      1，2,3跟上面所说的工作原理是一样的，唯一不同的在于第4点。
      4.再将P31设置为输入状态,P30,P32都设为高电平输出,通过RT电阻和R1电阻一起对C1充电,单片机内部计时器清零并开始计时,检测P31口状态,当P31口检测为高电平时,单片机计时器记录下从开始充电到P31口转变为高电平的时间T2


不知现在这种P30,P32都输出高，一起对C1充电，公式是怎么样的？
谢谢大家帮忙看看！！！




liufabing 发表于 2015-7-23 09:53:40

本帖最后由 liufabing 于 2015-7-23 10:01 编辑

RC测温，百度一下，大把的。论坛也能搜索到。

------------------------------------------------------以下为编辑-------------------------------------------------------
没注意到你说下面的特殊情况，第4步是2个电阻并联，那计算时T1／R1＝T2／(RT||R1)不就可以了吗?
(RT||R1)＝T2×R1／T1 ,R1是已知,RT有个温度表格,每一度对应一个电阻[也相当于已知].

lcw_swust 发表于 2015-7-23 12:50:01

2楼说得对，
P30,P32都输出高，一起对C1充电，这种情况可能是为了省去一个IO：P30,也就是说可以将R1直接接VCC。

xiaoluo2009 发表于 2015-7-23 17:28:09

liufabing 发表于 2015-7-23 09:53
RC测温，百度一下，大把的。论坛也能搜索到。

------------------------------------------------------以 ...

谢谢你的指点，今晚用你说的这个公式，代入去算。
非常感谢！

kebaojun305 发表于 2015-7-23 19:41:13

这种也可以叫传统的    用的太多了。

xiaoluo2009 发表于 2015-7-24 08:49:33

kebaojun305 发表于 2015-7-23 19:41
这种也可以叫传统的    用的太多了。

哦，我之前用的都是另外一种方法，还没试过这种。

xiaoluo2009 发表于 2015-7-24 10:09:42

liufabing 发表于 2015-7-23 09:53
RC测温，百度一下，大把的。论坛也能搜索到。

------------------------------------------------------以 ...

怎么测出来的温度值是偏高的。实际是25'C测出来的就变成了27.5'C了。

liufabing 发表于 2015-7-24 10:21:22

xiaoluo2009 发表于 2015-7-24 10:09
怎么测出来的温度值是偏高的。实际是25'C测出来的就变成了27.5'C了。

你可以先不直接计算出温度值.
而是将T1&T2发送出来.再做一个EXCEL表(用表格计算)分析下数据.看看是哪不对.

kebaojun305 发表于 2015-7-24 14:23:38

xiaoluo2009 发表于 2015-7-24 08:49
哦，我之前用的都是另外一种方法，还没试过这种。

基本各个芯片公司 都有这种的应用文档。

wuha 发表于 2015-7-24 14:28:46

现在单片机都自带AD模块，为啥不用AD接口直接测热敏电阻阻值呢？

xiaoluo2009 发表于 2015-7-24 17:21:29

liufabing 发表于 2015-7-24 10:21
你可以先不直接计算出温度值.
而是将T1&T2发送出来.再做一个EXCEL表(用表格计算)分析下数据.看看是哪不对 ...

好的，你说的挺对。

xiaoluo2009 发表于 2015-7-24 17:22:57

kebaojun305 发表于 2015-7-24 14:23
基本各个芯片公司 都有这种的应用文档。

我们这不知道是有没有，只有芯片的资料。
请问，你那可有，可否让我看看。

xiaoluo2009 发表于 2015-7-24 17:23:51

wuha 发表于 2015-7-24 14:28
现在单片机都自带AD模块，为啥不用AD接口直接测热敏电阻阻值呢？

为了压低价钱，没有用那种带AD的IC

liufabing 发表于 2015-7-25 16:29:28

xiaoluo2009 发表于 2015-7-24 17:23
为了压低价钱，没有用那种带AD的IC

如果你是用的3个IO口的,那其实分开测量2个电阻也可以啊.
为什么一定要并的方式测量呢?

2avr 发表于 2015-7-25 16:52:21

回楼上，100K 充电不是时间慢吗，两个口 可以就快了。哈哈{:lol:}，这种充电测温方式很占用系统时间的，因为统计充电的时间的时候啥也不能做‘

xiaoluo2009 发表于 2015-7-26 19:38:32

2avr 发表于 2015-7-25 16:52
回楼上，100K 充电不是时间慢吗，两个口 可以就快了。哈哈，这种充电测温方式很占用系统时间的，因 ...

你也用过这种测温方式？？？？

见入佳境 发表于 2015-10-29 12:34:07

关注下。。。。。

yydd_1 发表于 2016-1-7 12:22:03

关注一下，主要想了解一下这种方法测量的精度，电容的精度对测量影响不知怎么样？
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