makesoft 发表于 2022-6-3 19:11:16

stc芯片有没有so8封装带12位adc的片子?

只查到有一款stc8g是10位adc的so8,想自己做个bms管理单元电池。

不舍的六年 发表于 2022-6-4 11:38:40

gzhuli 发表于 2022-6-4 14:09:22

SO8还不如考虑QFN20。

t3486784401 发表于 2022-6-4 15:20:39

都是慢信号,算上过采样的话可以到 12bit。

10bit 过采样 16 次,就到了 12bit

小李非刀 发表于 2022-6-6 20:33:15

带12位ADC的引脚都比较多的。你的电池多少V?10位的不够吗?

国学芯用 发表于 2022-6-7 08:41:00

STC8H3K32S2-45I-TSSOP20,        RMB2.5;完美 12位 ADC,现货

rz007 发表于 2022-6-7 08:59:53

t3486784401 发表于 2022-6-4 15:20
都是慢信号,算上过采样的话可以到 12bit。

10bit 过采样 16 次,就到了 12bit ...
(引用自4楼)

请教大神,什么是“过采样”提高ADC的精度?只是听说过,不明白原理,搜了下也没搞懂。

您能否单独发个帖子讲解下呀?造福论坛我这样的小白。

万分感谢{:handshake:}

polarbear 发表于 2022-6-7 09:03:11

rz007 发表于 2022-6-7 08:59
请教大神,什么是“过采样”提高ADC的精度?只是听说过,不明白原理,搜了下也没搞懂。

您能否单独发个 ...
(引用自7楼)

这玩意么有多大意义, 这个和女人的胸垫一样, 外观好看, 实际空无一物

makesoft 发表于 2022-6-7 09:16:24

rz007 发表于 2022-6-7 08:59
请教大神,什么是“过采样”提高ADC的精度?只是听说过,不明白原理,搜了下也没搞懂。

您能否单独发个 ...
(引用自7楼)

这基于ADC内部还是线性的,在相邻采样两位之间存在着某些所谓的线性分布的概率存在,大量的采样积累做均值后,呈现出高位数ADC相似的结果。

提高一位至二位的结果也许还是可信的,期望再高就是扯淡了。

makesoft 发表于 2022-6-7 09:17:38

polarbear 发表于 2022-6-7 09:03
这玩意么有多大意义, 这个和女人的胸垫一样, 外观好看, 实际空无一物 ...
(引用自8楼)

基本是真理,比喻形象{:lol:}

makesoft 发表于 2022-6-7 09:18:37

gzhuli 发表于 2022-6-4 14:09
SO8还不如考虑QFN20。
(引用自3楼)

是的,体积上是这样,另外还有一个考虑因素,就是便宜。

国学芯用 发表于 2022-6-7 10:33:23

makesoft 发表于 2022-6-7 09:18
是的,体积上是这样,另外还有一个考虑因素,就是便宜。
(引用自11楼)

STC8H1K08-36I-QFN20,                RMB1.9,10位 ADC 试试看,市场上很多说12位的都是10位, 10位的实际只有8位,STC都是很实在的阐述性能

t3486784401 发表于 2022-6-7 13:55:10

rz007 发表于 2022-6-7 08:59
请教大神,什么是“过采样”提高ADC的精度?只是听说过,不明白原理,搜了下也没搞懂。

您能否单独发个 ...
(引用自7楼)

过采样不能提高精度,但可以提升分辨率。

以尺子测量长度为例,假设尺子上最小刻度(分辨率)为 1mm:

a. 如果某被测长度位于最小刻度线中间,我们一般会目测到两线距离的比例,读出 x.x mm 的结果,在十进制下延展一位分辨率,计量上称作“估读”。

b. 上述估读不便于机器自动实现,因而尝试改进:向两个刻度线中间均匀撒一些点,分别计数出位于被测长度左侧、右侧的点数。
    由于点是均匀撒布的,因而上述左侧、右侧的点数之比,可近似认为是上述距离之比,进而实现估读。

c. ADC 过采样类似于上述 a-b 过程,利用 ADC 各种噪声模拟上述“撒点”,统计出到两个最小读数(LSB)的距离之比,最后实现“估读”。


上述过程提升了“分辨率”,读数结果可以从 10mm 提升到 10.3mm,但并不代表可以提高“精度”。

a. 设想尺子受热膨胀了,全长增加了 10%,精度下降。这时候就算再估读 10.3mm,也是有 +10% 的误差的,回不去最开始的精度。

b. 设想尺寸局部膨胀,导致刻度不均匀,这时候估读的位数再多,也意义不大。

gzhuli 发表于 2022-6-7 15:04:41

rz007 发表于 2022-6-7 08:59
请教大神,什么是“过采样”提高ADC的精度?只是听说过,不明白原理,搜了下也没搞懂。

您能否单独发个 ...
(引用自7楼)

多年以前ATMEL就有一篇应用笔记讲过采样提高ADC精度的。

rz007 发表于 2022-6-7 22:18:37

t3486784401 发表于 2022-6-7 13:55
过采样不能提高精度,但可以提升分辨率。

以尺子测量长度为例,假设尺子上最小刻度(分辨率)为 1mm:
(引用自13楼)

感谢大神,好像明白了一些,我慢慢学习!{:handshake:}

小李非刀 发表于 2022-6-8 21:05:36

过采样在一定条件下可以提高分辨率,可以但不一定会提高精度。认为不能提高精度的朋友卡伊了解一下sigma delta adc的知识,一位ADC通过过采样就可以得到24位的ADC。
还是那句话,要条件合适!
过采样时,要求噪声分布接近一个LSB,并且ADC在各个点上的分辨灵敏度一致,则过采样可以得到小于1LSB电压的概率,就可以得到更高的分辨率。
最突出的就是sigma delta adc,用1 bit ADC(就是一个比较器),由于其结构简单,在很宽的频带内线性很好,所以通过过采样、噪声整形技术、数字抽取等,就可以得到高达24位甚至更高的分辨率。可以用一个性能比较好的模拟比较器来做一个简单的sigma delta adc,很容易做到14位的分辨率,10位精度没问题。

kokoc_power 发表于 2022-6-9 09:32:00

搞不懂,为什么一定要STC,性价比又不高,大把台系 OTP 12位ADC,0.5左右就可以搞定,DFN16的都不到一块钱。
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