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发表于 2013-9-20 08:24:27
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本帖最后由 locky_z 于 2013-9-20 09:30 编辑
这个电路的V3就是共模电压,你改变一下V3的值,但保持V2-V1的差值不变,看看输出电压是否和V3有关。
这4个电阻是决定这个电路的共模抑制比的,其影响程度远远大于运放本身的共模抑制比。
一般人想用这种电路首先原因是因为V3电压高,所以分压以便适应运放共模输入范围,也正因为需要分压,所以才变形成差分电路。
也正因为V3高,V2-V1低,所以V3这个共模电压对输出的影响是十分巨大的。
其次,这种差分检测电路,被检测电阻上还叠加了某一臂差分分压电阻的电流。
所以如果V3远大于v2-v1的话,尽量不用这种差分检测。
除非你这4个电阻是做在同一芯片上,例如Ti有一款100V共模输入范围的差分运放,它的4个差分电阻就是在同一芯片上,并经过激光矫正的。
或者用软件校正,你可以推导一下,输出电压Vout=k1*V3+k2*(v2-V1),如果你得到k1 k2两个系数,然后测出输出电压Vout以及V3的电压,就可以反推出v2-v1的真实值,
我做智能图示仪时也是碰到这个问题
需要测量集电极电流,也就是Rc上的电压,但RC两端对地电压高达36V,必须分压后才能加到ADC上,
图上的x1缓冲器目的是隔离分压电阻的分流。
Rc两端电压分别经过39K/5.1K分压后加到ADC两个输入端。
如果分压电阻不匹配,就会造成上面的问题。
我的方法是通过校正,通过短接RC,得到ADC两个通道的分压系数,然后计算得到k1 k2的系数。
以后测量时,通过测出V3以及ADC两个通道差值,换算出Rc上真实值。
举一个实际测量的图示,
上图是短接RC,然后设置不同的V3,通过软件测出分压后的ADC值,然后换算出RC上两端的电压。
我现在用的分压电阻是“RJ24-1/4W-1%”0.15元一只,
如果不矫正,换算出来的RC两端电压达到从10mV递增到190mV,并且是随着V3增大而增大的,而实际上它是短接的,是0mV的,
而经过校正以后,就是下面那条水平的线,是在正负2mV以内变化的。
不过这种方法仍旧有缺点,就是k1 k2的值会受温度影响,下图是已经校正过的,然后一直通电,也是短接RC两端方式,在不同时间端测量RC两端的值。
会有几mV(这个算好,有的有15mV)的漂移。
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