对于NTC热敏电阻温度的测量,是采用RC充放电频率捕获模式,还是ADC模式,哪个精度更高?

Popo · 发表于 2008-8-1 19:24:43

看过资料,有两种方法:

一种是不停的充放电,利用捕获的频率来推算R

一种是将NTC串连一个固定电阻,用分压联接至ADC来测量.

以上两路方法各有何优劣?

joylight · 发表于 2008-8-1 23:39:05

"一种是不停的充放电,利用捕获的频率来推算R"，孤陋寡闻，没听说过

“一种是将NTC串连一个固定电阻,用分压联接至ADC来测量”，看你需要什么精度，以及你的测量范围，可以实际计算一下，一般应该都还可以。

cock · 发表于 2008-8-2 04:39:50

不管用什么方法，分辨率是关键，如果RC充放电的分辨率超过10bit,才会比AD法好；
还有一点是：AD法串联的取样电阻，对测量范围有影响.RC法不明显。

guantingwei · 发表于 2008-8-2 08:23:15

分辨率高也没用啊，线性度、精度、干扰都会影响的。

zht_omc · 发表于 2008-8-2 08:33:45

个人感觉你这两种方法稳定性及温度特性都一般，因为电容和电阻值也会变的，而且第二种方法线性化太差，建议用运放来搭建温度检测，利用运放的高增益来消除器件的温漂等误差。

armandusb · 发表于 2011-12-31 10:40:26

我测量的时候一个检测温度一个检测频率,线长了,到达300米后开始互相影响!不知道怎么解决

xuhe831206 · 发表于 2012-2-10 11:32:59

感觉第一种不太行，实际的没有用过

sweet_136 · 发表于 2014-6-17 20:44:13

你好.第一种方法你用过么? 啥情况?

zhugean · 发表于 2014-6-18 09:24:21

有ADC当然用ADC啦，没有的话可以考虑第一种

makesoft · 发表于 2014-6-18 09:43:05

joylight 发表于 2008-8-1 23:39
"一种是不停的充放电,利用捕获的频率来推算R"，孤陋寡闻，没听说过

“一种是将NTC串连一个固定电阻,用分压 ...

第一种用过N年了，性能稳定，推荐。

richwen · 发表于 2014-6-18 12:00:37

NTC用的比较多。另外的听说过，没用过！

冷雨夜 · 发表于 2014-6-18 12:36:11

要是RC充放电性能好过ADC，生产ADC的厂家就可以倒闭了。

bmagui · 发表于 2014-6-18 13:49:49

冷雨夜发表于 2014-6-18 12:36
要是RC充放电性能好过ADC，生产ADC的厂家就可以倒闭了。

不能这样说，RC充放电，可以通过计算直接消除一些干扰（比如：电源电压，外接电阻，温度等）。所以做出来不会比AD的精度低，当然要有足够的时钟频率和外部元件的精度。

bmagui · 发表于 2014-6-18 13:51:45

当然，RC会占用更多的资源，程序的复杂度也提高了！

liangws201 · 发表于 2015-5-12 22:12:12

bmagui 发表于 2014-6-18 13:51
当然，RC会占用更多的资源，程序的复杂度也提高了！

LZ，是否能提供RC测量的思路？

jiangshaoyatui · 发表于 2015-5-21 10:44:17

要求高还是AD吧用RC应该是权益之计没ad的情况下用

jiangshaoyatui · 发表于 2015-5-21 10:45:45

刚看到RC测温度的帖子就在隔壁
的http://www.amobbs.com/thread-995926-1-1.html

hyper320 · 发表于 2015-5-21 15:44:07

在那个AD IC基本上很少或很贵的时代,连一颗电阻都在省的时代,这也就是为何现在很多MCU内部有上下拉的选项,更甚者连NTC都不用,而是用二级管来侦测温度,当时RC好处是便宜而且分辨率可大可小,因为是用RC,所以要分辨率高就加大RC,要速度快就减少RC,要快又要分辨率高那只能要求MCU的速度要够快.當時最流行的PIC16C5X甚至連中斷都沒有

liangws201 · 发表于 2015-5-22 11:53:07

makesoft 发表于 2014-6-18 09:43
第一种用过N年了，性能稳定，推荐。

能否提供一下思路？

pic_flash · 发表于 2016-11-26 16:32:34

如果用AD 方式，对NTC供电的电压的要求是否很高？如果线很长（5米），要怎样做才不太影响精度？要求分辨率0.1°C
正在考虑DS18B20那种，但是引线可能太长了。。担心不能正常操作

18161319737 · 发表于 2016-11-26 18:15:28

充放电的，可以参考MSP430的。

TI公司有文章专门讲这个方法的。

还需要比较器才能使用。

对于成本压力大的，没有ADC的情况下，可以使用。

据说充放电的分辨率可以做到很高很高。

但是对于NTC来说，意义不大。

zhcj66 · 发表于 2022-7-11 15:16:55

makesoft 发表于 2014-6-18 09:43
第一种用过N年了，性能稳定，推荐。
(引用自10楼)

能否说说具体过程吗?

zhcj66 · 发表于 2022-7-11 15:17:20

18161319737 发表于 2016-11-26 18:15
充放电的，可以参考MSP430的。

TI公司有文章专门讲这个方法的。
(引用自21楼)

能放个连接吗

tuy0326 · 发表于 2022-7-11 15:59:28

有ADC肯定ADC啊，还计算RC充放电时间，累不累啊？又不是能提高多少

gzhuli · 发表于 2022-7-11 16:42:52

zhcj66 发表于 2022-7-11 15:16
能否说说具体过程吗?
(引用自22楼)

简单来讲就是需要一个比较器和一个定时器，一个GPIO控制NTC对电容充电，同时定时器开始计数，到电容充电到比较器阈值，触发定时器停止计数，根据电容容量和充电时间即可算出NTC阻值。

zhcj66 · 发表于 2022-7-12 16:50:02

gzhuli 发表于 2022-7-11 16:42
简单来讲就是需要一个比较器和一个定时器，一个GPIO控制NTC对电容充电，同时定时器开始计数，到电容充电 ...
(引用自25楼)

同一品牌型号MCU的GPIO 认为高或者低电平的阈值是否固定, 会不会有几mv的浮动?

gzhuli · 发表于 2022-7-12 17:14:33

zhcj66 发表于 2022-7-12 16:50
同一品牌型号MCU的GPIO 认为高或者低电平的阈值是否固定, 会不会有几mv的浮动? ...
(引用自26楼)

你自己算算几mV的波动对采样结果有多少影响呗，较真的话电容的温度系数也要算进去哦。

本身这个就是低成本低精度的方案，想那么多干嘛呢。

zhcj66 · 发表于 2022-7-13 15:51:20

gzhuli 发表于 2022-7-12 17:14
你自己算算几mV的波动对采样结果有多少影响呗，较真的话电容的温度系数也要算进去哦。

本身 ...
(引用自27楼)

也是看买的数显温湿度计都是这么干的,发现测量一致性还是比较好的

马氏王朝 · 发表于 2023-1-29 09:47:28

makesoft 发表于 2014-6-18 09:43
第一种用过N年了，性能稳定，推荐。
(引用自10楼)

运放+比较器的方案使用过吗

马氏王朝 · 发表于 2023-1-29 09:57:52

请问运放+比较器的方案使用过了吗

对于NTC热敏电阻温度的测量,是采用RC充放电频率捕获模式,还是ADC模式,哪个精度更高?

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