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LGT ADC求指导

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出0入0汤圆

发表于 2013-11-1 15:47:25 | 显示全部楼层 |阅读模式
我在使用LGT ADC模块读取PA0引脚时,发现读回来的ADCH的高几位也有数据。。。这是为什么,不是说只有10位的么。那ADCH应该只有0,1有数据吧。。。求解

出0入0汤圆

发表于 2013-11-20 17:48:50 | 显示全部楼层
你看一下是不是对齐的问题, ADC读数是支持右对齐的。

出0入0汤圆

发表于 2013-11-20 17:51:35 | 显示全部楼层
使用内部参考时候,我们有一个方案可以提高精度。

出0入0汤圆

 楼主| 发表于 2013-11-21 20:57:23 | 显示全部楼层
kelp 发表于 2013-11-20 17:48
你看一下是不是对齐的问题, ADC读数是支持右对齐的。

已经解决了,谢谢

出0入0汤圆

发表于 2013-11-22 11:23:44 | 显示全部楼层
logicgreen 发表于 2013-11-20 17:51
使用内部参考时候,我们有一个方案可以提高精度。

你是说 利用1.25v?

出0入0汤圆

发表于 2013-11-28 18:02:29 | 显示全部楼层
logicgreen 发表于 2013-11-20 17:51
使用内部参考时候,我们有一个方案可以提高精度。

能否展开说说啊  

出0入0汤圆

发表于 2013-11-29 20:23:44 | 显示全部楼层
08A的ADC的输入阻抗小(20KOhm左右),内部1.25V的参考电压只有5%的精度;
因此会导致08A的ADC一致性不是很好,可能会有5%左右的非一致性;

我们计划对以后交货的08A,在测试时,使用高精度的外部参考测试出每一个芯片的内部参考,
记录到GUID的最低字节上(比如实测1.23V,GUID0=123);
这样,如果应用需要高一致性的ADC转换结果,可以时钟(GUID0/100)作为内部参考电压
Vin = (ADCD/0x3FF) * (GUID0/100.0)
这样补偿后,测试的精度非常高,可以接近1%
将这个补偿值存放到GUID0上,这样就不会被误写掉,而且还可以直接通过GUID0寄存器读取;
同时由于内存参考实测值的离散性很大,也不会影响GUID的随机性

出0入17汤圆

发表于 2013-12-17 16:18:30 | 显示全部楼层
LGT 发表于 2013-11-29 20:23
08A的ADC的输入阻抗小(20KOhm左右),内部1.25V的参考电压只有5%的精度;
因此会导致08A的ADC一致性不是很 ...

对每个芯片进行校准,这样内部基准就可用了。只是芯片的生产测试复杂些,AVR都没做到。期待 LGT更给力。
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