stm8s003f3自带EEPROM的使用寿命是多少？

涵潇舒雅

写了一段测试代码，想测试一下stm8s003f3自带的EEPROM的擦写次数；

1. /******************************************************************************/
   
2. /** 测试eeprom的读写次数
   
3.   *
   
4.   * @return
   
5.   *
   
6.   *//*
   
7.   * History        :
   
8.   * 1.Date         : 2017/8/23
   
9.   *   Author       : Nat
   
10.   *   Modification : Created function
    
11. 
    
12. *******************************************************************************/
    
13. void eeprom_task( void )
    
14. {
    
15.     static u8 temp = 0;
    
16. 
    
17. 
    
18.     Write_Byte(Test_Num,EEPROM_WR_ADD);//往固定地址写数据
    
19.     temp = Read_Byte(EEPROM_WR_ADD);//从指定位置读取数据
    
20. 
    
21.     if(temp == Test_Num)//[color=Red]将读取的数据与写入的数据进行比较，如果一样Test_Count++ 用于统计成功写入的次数[/color]
    
22.     {
    
23.         Test_Count++;
    
24.         Test_Num++;
    
25.         _flg = 0;
    
26.     }
    
27.     else
    
28.     {
    
29.         if( _flg == 0)
    
30.         {
    
31.             Write_Buf(pTest_Count, 4, EEPROM_RS_ADD);
    
32.             _flg = 1;
    
33.         }
    
34.     }
    
35. 
    
36. 
    
37. 
    
38. }
    

复制代码

现在Test_Count 以及计数到8亿次，感觉有点不正常啊，是不是测试方法不对？

3DA502

人家的测试方法和你不一样

好像是把所有的存储单元写0x00，再擦除为0xff，连续循环直到，批量样本中出现有1个bit错误，现在一般都是保证10k以上次循环

对于单个芯片，可能100k次也没有一个bit错误

aammoo

全写满0，校验，擦除，校验，这样循环测试

涵潇舒雅

3DA502 发表于 2017-8-23 13:56
人家的测试方法和你不一样

好像是把所有的存储单元写0x00，再擦除为0xff，连续循环直到，批量样本中出现有 ...

这个样子啊，可能是我理解的有点偏差，那我整个擦除一下，试试

涵潇舒雅

aammoo 发表于 2017-8-23 14:00
全写满0，校验，擦除，校验，这样循环测试

好的，我试试~3Q

wx85105157

而且还要高温老化，数据要保证一段时间后再读取不出错。

li_thomas

EEPROM有标准的测试方法：write 0x5a to address n and write 0xa5 to address n+1; read back these data, increase the success time by 1 if the data is right; write 0xa5 to address n and write 0x5a to address n+1; read back these data, increase the success time by 1 if the data is right;。我记得没错的话，很多电表厂家都是这么测的

a312835782

整个区域不停的读，写。还要时不时断电一下。

涵潇舒雅

a312835782 发表于 2017-8-23 17:25
整个区域不停的读，写。还要时不时断电一下。

我晕，这么复杂~~~

涵潇舒雅

wx85105157 发表于 2017-8-23 17:09
而且还要高温老化，数据要保证一段时间后再读取不出错。

沃日，那还是算了，我还是用理论值计算一下产品的寿命吧~

涵潇舒雅

li_thomas 发表于 2017-8-23 17:13
EEPROM有标准的测试方法：write 0x5a to address n and write 0xa5 to address n+1; read back these data, ...

我理解的太简单了~

ayumi8

003  规格书好像是说  rom区域  100次 保证               EEP区域好像是 10W 次擦写

ackyee

用铁电吧 别纠结