求助，如何鉴别NOR FLASH 是否是翻新货？

fengshuai_1984 · 发表于 2017-10-10 19:51:06

项目中用到SPANSION的NOR FLASH：S29GL256P10TFI01，系统已经用了很久了，软硬件都比较稳定没有改动，但新焊接回来一批板子，该片子有的第一次读ID就读不出来或者错误，有的写进去的数据，读出来后发现有1bit 固定为0 或者1 了，有的片子，热风枪吹下来再焊上去就挂了，当然还有的没有任何问题。
怀疑是买的片子有问题，请问大家有没有什么好办法可以判断是否是翻新芯片？

散装805 · 发表于 2017-10-10 20:33:48

寄回原厂分析。

亲爱的混蛋 · 发表于 2017-10-10 20:43:19

读取flash坏块数量。

qiufeng · 发表于 2017-10-10 19:51:07

记得早期使用MTK芯片的手机部分使用这款字库芯片。
建议用带表卡尺（或者数显卡尺）测量厚度再跟正常芯片及原厂货比较、用带灯放大镜观察芯片表面和背面有没有打磨和重新丝印的痕迹。

littlemouse11 · 发表于 2017-10-11 00:33:21

首先得花大价钱买到正规渠道的正品货。然后，，，，，楼上说的很对，卡尺测厚度。磨过丝印的芯片会薄一些。

fengshuai_1984 · 发表于 2017-10-11 08:45:29

qiufeng 发表于 2017-10-11 00:22
记得早期使用MTK芯片的手机部分使用这款字库芯片。
建议用带表卡尺（或者数显卡尺）测量厚度再跟正常芯片及 ...

手册里给出芯片厚度0.95—1.05mm范围，量了下基本都在1.00左右，没有超出范围。

qiufeng · 发表于 2017-10-11 08:47:34

fengshuai_1984 发表于 2017-10-11 08:45
手册里给出芯片厚度0.95—1.05mm范围，量了下基本都在1.00左右，没有超出范围。 ...

不正常和和损坏的芯片厚度也是这个范围？

xwkm · 发表于 2017-10-11 08:51:06

亲爱的混蛋发表于 2017-10-10 20:43
读取flash坏块数量。

这是NAND Flash才能用的一招←_←NOR坏区没标记的。

fengshuai_1984 · 发表于 2017-10-11 08:58:42

亲爱的混蛋发表于 2017-10-10 20:43
读取flash坏块数量。

网上关于nor 坏块有两种说法：一种是说NOR没有坏块，一种是NOR也有，通过冗余存储单元替换掉。没有坏块是不是说出厂时保证没有，但使用寿命到了也会产生？有坏块了是否还能正常使用？坏块自动被替换还是需要软件配合？
另外大侠还知道如何读取NOR FLASH 的坏块数量？

fengshuai_1984 · 发表于 2017-10-11 09:28:56

qiufeng 发表于 2017-10-11 08:47
不正常和和损坏的芯片厚度也是这个范围？

是的，量了5片不正常的，都在范围内，而且基本在0.98-1.02范围内，这个方法基本没法分辨了。

fengshuai_1984 · 发表于 2017-10-11 09:34:41

最新发现，在同一编带里抽取了相邻2片，背面凹坑印字如图所示，一片是MALAYSIA 07 一片是THAILAND K2 ，也就是说这两片产地一个是马来一个是泰国，原厂包装会出现这个现象么？是否可说明是重新编带的？

fengshuai_1984 · 发表于 2017-10-11 09:41:06

同样是马来产的，背面凹坑印字还有另外一种：（MALAYSIA字样更加紧凑）

xyz543 · 发表于 2017-10-11 09:48:58

记得貌似之前看到三星的 NAND-FLASH 的文档有说其芯片后缀有四种规格。
这四种有出厂是全无坏块的，也有那种确定有坏块的，他们的后缀带 B 字就是肯定有坏块但是是可用的。

LQS1200 · 发表于 2017-10-11 10:00:42

fengshuai_1984 发表于 2017-10-11 09:34
最新发现，在同一编带里抽取了相邻2片，背面凹坑印字如图所示，一片是MALAYSIA 07 一片是THAILAND K2 ，也 ...

肯定是散装或翻新的

qiufeng · 发表于 2017-10-11 10:34:30

fengshuai_1984 发表于 2017-10-11 09:28
是的，量了5片不正常的，都在范围内，而且基本在0.98-1.02范围内，这个方法基本没法分辨了。 ...

卡尺是数显的？还是买正品的带表来测量，或者高端的数显。

fengshuai_1984 · 发表于 2017-10-11 10:43:54

qiufeng 发表于 2017-10-11 10:34
卡尺是数显的？还是买正品的带表来测量，或者高端的数显。

是数显游标卡尺。这个厚薄区别感觉还是很难拿捏啊，谢谢您的回复。

qiufeng · 发表于 2017-10-11 10:51:47

fengshuai_1984 发表于 2017-10-11 10:43
是数显游标卡尺。这个厚薄区别感觉还是很难拿捏啊，谢谢您的回复。

便宜货、进了杂物、没有保养还有用久了就容易造成数字乱跳、精度下降等等。

wzyllgx · 发表于 2017-10-12 14:09:53

同一卷带不可能几个产地，肯定不是原装货咯。

fengshuai_1984 · 发表于 2017-10-12 17:00:00

wzyllgx 发表于 2017-10-12 14:09
同一卷带不可能几个产地，肯定不是原装货咯。

谢谢您的回复，我也初步判断非原装了，因为是看到qiufeng 的建议查看芯片底部凹坑印字，才发现问题的，悬赏分就给qiufeng了

fengshuai_1984 · 发表于 2017-10-12 17:01:56

LQS1200 发表于 2017-10-11 10:00
肯定是散装或翻新的

谢谢您的回复，我也初步判断非原装了，因为是看到二楼qiufeng 的建议查看芯片底部凹坑印字，才发现问题的，悬赏分就给qiufeng了。

LQS1200 · 发表于 2017-10-12 17:12:50

fengshuai_1984 发表于 2017-10-12 17:01
谢谢您的回复，我也初步判断非原装了，因为是看到二楼qiufeng 的建议查看芯片底部凹坑印字，才发现问题的 ...

没事,你不如问下别人在哪买更好,flash这些随便买肯定中招,肯定没问题的又很贵,稍便宜又可靠的真难找

fengshuai_1984 · 发表于 2017-10-13 12:00:12

LQS1200 发表于 2017-10-12 17:12
没事,你不如问下别人在哪买更好,flash这些随便买肯定中招,肯定没问题的又很贵,稍便宜又可靠的真难找 ...

是的，中小微企业采购之痛。

dz20062008 · 发表于 2017-10-13 13:08:03

显然是二手的f芯片。flash加热会减短存储数据时效，因为加热会增加半导体漏电，存储的电荷会流失。所以加热后丢数据说明存储电容器漏电利害，也就是绝缘层变差，这也是f芯片有写入寿命的原因，越用越薄漏电增加，数据有效时间也越短。可以做老化实验，比如加热保持一定时间看数据是否完整，或者用设备对f进行写入寿命测试。nor也会坏点的，由于工艺不一样所以寿命比nand 的slc寿命还要长很多很多，多到可以不作为重要参考参数。同样工艺不同所以制造时候不易出现工艺坏点。所以nor f芯片出厂都是无坏点。

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